Focus On Microscopy 2010国际学术年会2010.04.02
至今已举办了13届的“Focus On Microscopy”年会（FOM）, 今年首次进军上海，于2010年复活节前一周（3月28日到31日）在光大会展中心召开。该会议起源于对上世纪80年代中期发展起来的三维成像共聚焦显微镜技术和相关的三维图像处理方法进行的专业研讨会。随着生物学和医学的快速发展，现在的FOM会议已经成为全球显微技术专家们交流和研讨的重要会议。例如本届会议上，就有Stefan W. Hell（STED发明人）E.M.M. Manders（共定位Manders系数方法发明人）等顶尖专家出席并作报告。
尼康公司作为显微镜领军企业之一，对FOM会议一向非常重视。在日本东京本部的大力协助之下，尼康公司赞助并成功参加了此次会议。在此次会议期间展出了最新的“λS”物镜和A1R共聚焦系统，引起了与会专家们的广泛兴趣。与会者们在观看了尼康公司最新的N-STORM和N-SIM超分辨率显微镜介绍后，对其在拍摄速度和分辨率上的优越性能十分赞许。
在三天的会期里，各方专家与包括尼康在内的赞助商企业进行了十分融洽的交流。为进一步发展和繁荣生物成像技术特别是光学显微技术起到了很好的推动作用。
